上一篇文章介绍了关于如何选购X射线荧光光谱仪|XRF仪器设备，本文介绍一下关于岛津和天瑞X射线荧光光谱仪EDX720和EDX2800操作区别。
曾经接触过岛津的EDX720和天瑞的EDX2800，仪器虽然在原理上差不多，但在实际操作中还是有点差异，现简单说说：
1.）EDX720因为是采用液氮冷却，所以开机前加完液氮，要等至少30分钟后才能开机
EDX2800因为是电子制冷，不需添加液氮；
2.）EDX720打开X光管，至少要等30分钟才能用A750校正
EDX2800无需操作软件打开X光管，预热30分钟后，用AG块初始化；EC680标样分析
3.）EDX720关闭X光管，至少要等20分钟才能关机
EDX2800不需要
4.）EDX2800测量塑胶相当来说是比较准确的，金属误差要大些．EDXRF测量精确度不是很高，但应对RoHS应该是够了
一、下面是岛津X射线荧光光谱仪EDX720型号的技术参数：
岛津X射线荧光光谱仪EDX720装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。
岛津X射线荧光光谱仪EDX720可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求，畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
EDX-720的新功能：
1.高灵敏度的新型能量色散型X射线荧光分析装置！
2.在所有机型上配备全新的测定·解析功能！追求更高的分析精度。
3.通过配置新型1次滤光片和高计数电路，灵敏度比以往机型提高2倍以上！
4.配备新型1次滤光片
5.为提高Cd、Pb等有害重金属的检测灵敏度，采用2 种新型滤光片。通过提高S/N比、降低散射线，得到了比以往机型更高的灵敏度。
6.计数系统的改进，经过改进，系统能够更高效地检测从样品产生的X射线荧光。以此降低了检测器的饱和，可进行较以往机型更高输出的测定。并有助于提高分析精度。
二、下面是天瑞X射线荧光光谱仪EDX2800型号的技术参数：
针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析
ROHS指令检测主要技术指标
※.测量元素:从硫至铀等75种元素
※.元素含量分析范围:1ppm-99.99%
※. RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)
※.检测限最高达1ppm
※.测量时间: 60-300s
※.能量分辨率为： 160±5eV
※.高压：5-50kV
※.管流：50-1000uA
※.温度适应范围：15-30℃
※.电源：交流220±5V（建议配置交流净化稳压电源）
※.重量：60kg
※.自动选择滤光片
※.多种准直器自动自由切换
※.电制冷硅针半导体探测器
※.加强的金属元素感度分析器
※.三重安全保护模式
※.相互独立的基体效应校正模型
※.多变量非线性回归程序
※.任意多个可选择的分析识别模型
※.一次可同时分析24个元素析
天瑞X射线荧光光谱仪EDX2800仪器基本配置
※.信噪比增强器
※.自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品
※.独特的光路增强系统，方便用户更好地观察样品
※.测量RoHS，电镀镀层，全元素分析，一机多用
※.电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷
※.特别开发的测量软件，操作界面十分友好
※.内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品
※.精准的移动平台，更精确方便地调节样品位置
※.高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击
※.样品腔尺寸：605mm*395*70mm
以上就是小编对于岛津和天瑞X射线荧光光谱仪EDX720和EDX2800操作区别的一些见解
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